上海峰志儀器有限公司shanghai fengzhi instrument co,.ltd
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美國BHK 68-0020-14汞燈電源： 輸入24Vdc，輸出1100v，電流：47.5mA,頻率27k?！?/p> 了解詳情
發(fā)布日期： 2022-11-23
紫外光源是以產(chǎn)生紫外輻射為主要目的的非照明用電光源。紫外輻射是波長小于紫色光波長的一定范圍的電磁輻射，波長為1～380nm,可劃分為長波（代號UV-A，波長315～380nm）、中波(UV-B，280～315nm)、短波(UV-C,200～280nm)、真空(UV-D,1～200nm)4個(gè)波段，相應(yīng)的紫外光源分別稱之為長波、中波、短波和真空紫外光源。紫外光源具有熒光效應(yīng)、生物效應(yīng)、光化學(xué)效應(yīng)和光電...…
了解詳情發(fā)布日期： 2022-11-22
紫外臭氧清洗的工作原理，紫外線(UV)燈照射分為兩種波長(185和254 nm)。每個(gè)波長對化學(xué)反應(yīng)都有不同的作用。185nm紫外線將氧分子O2解離成三聯(lián)體原子氧O(3P)。三重原子氧O(3P)與氧分子氧O2結(jié)合生成臭氧O3?！?/p> 了解詳情
發(fā)布日期： 2022-11-15
美國路陽油基（油溶性）熒光檢漏劑LUYOR-6100適用于發(fā)動機(jī)潤滑油、液壓油、剎車油、轉(zhuǎn)向油、齒輪油和燃油等絕大多數(shù)油品。不管油品是全新的還是已經(jīng)使用過的，油溶熒光劑均表現(xiàn)出的熒光性能；并且可以在油品中長期存在和反復(fù)使用，以下為LUYOR-6100的常見問答解答：…
了解詳情發(fā)布日期： 2022-11-11
1982年，美國蒙那多儀器事業(yè)部成立，生產(chǎn)和銷售臺基于微處理器的便攜式轉(zhuǎn)速表...TACH-IV，數(shù)字光學(xué)轉(zhuǎn)速計(jì)。傳感器被添加到產(chǎn)品中，首先作為附件，然后作為獨(dú)立產(chǎn)品。1990年隨著其他轉(zhuǎn)速計(jì)產(chǎn)品，Monarch通過推出Nova-Strobe系列擴(kuò)展到頻閃儀，隨后在1990年代初推出了機(jī)器視覺頻閃儀?！?/p> 了解詳情
發(fā)布日期： 2022-10-27
LUYOR-3103D Classic Series Dual Beam LED handheld-UV lampLamp With Internal Li-Ion Battery (CE Approved)ASTM E3022 Compliant, Portable, High Intensity Lamp at a great value. Nominal Steady-State UV-A ...…
了解詳情發(fā)布日期： 2022-10-27
SITA表面清潔度儀是一款操作簡便的手持式零件表面潔凈程度的測試儀器。金屬或者其它材料的零件表面潔凈程度以百分比形式輸出。由于玷污物的熒光特性，通過一個(gè)含紫外光波的LED燈照射，SITA表面清潔度測量儀即可探測出玷污物。儀器探頭里的光電二極管負(fù)責(zé)測量UV熒光的強(qiáng)度。UV熒光越強(qiáng)表示污染程度越大，反之則越潔凈?！?/p> 了解詳情
發(fā)布日期： 2022-09-20
上海峰志儀器有限公司銷售的led黑光燈主要用于無損檢測領(lǐng)域的熒光磁粉探傷和熒光滲透探傷。熒光滲透檢測所用的紫外線也稱黑光，所用的紫外線燈也稱黑光燈。黑光波長范圍約330～390nm，中心波長約365nm。老式黑光燈一般為高壓水銀蒸氣黑光燈。隨著科技發(fā)展，近幾年出現(xiàn)了LED黑光燈。…
了解詳情發(fā)布日期： 2022-10-20
上海峰志儀器有限公司用于藥廠核黃素檢查的黑光燈主要有便攜手電筒式黑光燈、便攜手持式黑光燈、桌面式黑光燈、懸掛式黑光燈……款式不一，LED的數(shù)量不一，主要為1,4,8顆LED，壽命長達(dá)30000小時(shí)。一般藥廠核黃素檢查客戶都會選擇上海峰志儀器有限公司手電筒式黑光燈和手持式黑光燈，鋰電池供電，方便攜帶。黑光燈不同型號有不同功能，不同照度，具體選擇哪款，要根據(jù)實(shí)際使用要求及情況決定。…
了解詳情發(fā)布日期： 2022-10-09
晶圓晶片表面瑕疵缺陷檢查燈，又叫硅片研磨目檢黃光燈，美國路陽從2010到現(xiàn)在一直致力于為客戶研發(fā)更適合的表面瑕疵檢查燈，近根據(jù)晶圓晶片客戶要求開發(fā)新款應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓晶片表面瑕疵檢查燈LUYOR-3318，內(nèi)置30W大功率led模組發(fā)光，可檢查出半導(dǎo)體晶圓表面1um瑕疵，瑕疵包含冗余物（如微小顆粒、灰塵、晶圓加工前一個(gè)工序的殘留物）和機(jī)械損傷?！?/p> 了解詳情
發(fā)布日期： 2022-10-08
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